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FEI FIB双束扫描电镜技术优势

时间:2022-12-27  点击次数:2579

● 高性能的Elstar电子束镜筒结合UC+单色器的技术, 实现了亚纳米级的SEM 和S/TEM图像分辨率

● 杰出的低kV Phoenix离子束性能使TEM样品制备时可以达到只有亚纳米级的 损伤

● 可以通过多达5个集成束内和透镜下探测器获得清晰的、精细的、免费的 对比图像

● MultiChem气体输送系统为在双光束平台下电子和离子束诱导沉积和刻蚀 提供了最先进的技术支持。

● EasyLift EX 纳米操 作手能够精确的、定点的制备超薄TEM薄片,同时提高 了用户的信任度和产量

● STEM 4 探测器在TEM薄片样品上提供了出色的分辨率和对比度

● 来自Thermo Fisher Scientific 在双光束应用内失效分析领域内的世界级 的专业知识的支持

 

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